平面平晶簡(jiǎn)介:平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。

平面平晶功能:平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、_平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。

序號(hào) 名稱 型號(hào)規(guī)格 單位 數(shù)量 　等級(jí)
1 平面平晶 φ30×15 塊 1 _
2 平面平晶 φ45×15 塊 1 _、二級(jí)
3 平面平晶 φ60×20 塊 1 _、二級(jí)
4 平面平晶 φ80×20 塊 1 _、二級(jí)
5 平面平晶 φ100×25 塊 1 _、二級(jí)
注：特殊規(guī)格可定做